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美國B&W Tek光譜儀
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關(guān) 鍵 詞 | 美國B&W Tek光譜儀 |
- 【資料簡介】
美國B&W Tek光譜儀
品牌介紹:
B&W Tek成立于1997年,總部位于美國,是二極管激光器和二極管泵浦固態(tài)(DPSS)激光器的定制解決方案的生產(chǎn)商,已發(fā)展成為一家擁有光子激光器,光譜儀和化學(xué)計(jì)量學(xué)技術(shù)的公司,主要生產(chǎn)光譜學(xué)和激光儀器。我們的業(yè)務(wù)涵蓋移動光譜解決方案,包括全系列的便攜式拉曼和手持式拉曼系統(tǒng),面向系統(tǒng)集成商的構(gòu)件光譜儀和激光組件以及針對目標(biāo)應(yīng)用需求的定制解決方案。在工程,制造,生產(chǎn)和應(yīng)用程序開發(fā)方面的能力可滿足定制傳感器,醫(yī)學(xué)診斷,原材料分析等方面特定于應(yīng)用程序的需求。
產(chǎn)品范圍:
美國B&W Tek光譜儀、激光器、二極管激光器、激光儀器。
主要型號:
Exemplar Plus LS、FRC100、BFH105、BCH100A / BCH103A、R1010、R045、BDS130A、SCL101、BDS100、BPS101
應(yīng)用:
生物醫(yī)學(xué)、化學(xué)、安全和保障、醫(yī)療設(shè)備、研究和教育
相關(guān)產(chǎn)品介紹:
Exemplar Plus LS是一款高性能智能光譜儀,利用像差校正凹面全息光柵來很大程度地減少雜散光。其長焦距加上高量子效率檢測器,可在整個(gè)190-1100nm光譜范圍內(nèi)提供好的數(shù)據(jù)質(zhì)量。Exemplar Plus LS具有高信噪比,使其非常適合弱光應(yīng)用,還具有內(nèi)置快門,即使在照明條件下也可以進(jìn)行暗掃描測量。作為Exemplar產(chǎn)品系列的成員,它具有板載數(shù)據(jù)處理和USB 3.0通信功能。Exemplar產(chǎn)品線還針對具有超低觸發(fā)延遲和柵極抖動的多通道操作進(jìn)行了優(yōu)化。
標(biāo)準(zhǔn)光譜配置范圍為180nm-1050nm,分辨率范圍為0.6nm至6.0nm。自定義配置可用于OEM應(yīng)用程序。
特征:
-車載處理,包括平均,平滑和暗補(bǔ)償
-每秒以6.3ms的積分時(shí)間采集和傳輸140多個(gè)光譜
-支持多達(dá)32個(gè)具有超低觸發(fā)延遲(95ns)和柵極抖動(+/- 20ns)的設(shè)備
技術(shù)指標(biāo):
-電源輸入:5V DC @ 3.0A(max啟動時(shí))
-探測器類型:背面薄型CCD陣列
-波長范圍:190nm-1100nm
-檢測器像素格式:2048個(gè)有效檢測器元件
-有效像素大小:14微米x?0.9毫米
-光譜儀f /#:3.0
-光譜儀光學(xué)布局:凹面全息,像差校正,平場
-動態(tài)范圍:50,000(典型值)
-數(shù)字化儀分辨率:16位或65,535:1
-資料傳輸速度:突發(fā)模式下積分時(shí)間為6.3ms時(shí)每秒> 140光譜
-觸發(fā)延遲:95ns +/- 20ns(要求時(shí)序圖)
-讀出速度:> 400kHz
-整合時(shí)間:6.3ms,以1μs為增量可調(diào)
-輔助端口:外部觸發(fā),4個(gè)數(shù)字輸出(2個(gè)帶快門控制),2個(gè)數(shù)字輸入,模擬輸入,模擬輸出和系統(tǒng)復(fù)位
-工作溫度:5°C-35°C
-工作相對濕度:85%無冷凝
-CCD散熱:默認(rèn)值:環(huán)境溫度為25oC時(shí)為0oC。
-重量:2.6磅
-尺寸圖:7.0英寸x 4.25英寸x 2.68英寸(178毫米x 108毫米x 67毫米)
-電腦介面:USB 3.0 / 2.0
-操作系統(tǒng):Windows:7、8(32位和64位)
應(yīng)用范圍:
-弱光紫外到近紅外光譜
-拉曼和熒光光譜
-在線過程監(jiān)控
-LCD顯示量測
-生物醫(yī)學(xué)光譜學(xué)
-煤氣和水分析
-LED表征
2024世環(huán)會【工業(yè)節(jié)能與環(huán)保展】

div6月3日,2024世環(huán)會【工業(yè)節(jié)能與環(huán)保展】于上海丨國家會展中[詳細(xì)]
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